內部缺陷 選購指南
MOA-30氧化鋅避雷器檢測儀選武漢華頂電力質量過硬精度高操作方便
MOA-30氧化鋅避雷器直流參數測試儀是專門用于檢測10kV及以下電力系統用無間隙氧化鋅避雷器MOA閥電間接觸不良的內部缺陷，測量MOA的直流參考電壓（U1mA）和0.75 U1mA下的泄漏電流。該儀器將直流高壓電源、測量和控制系統組成一體，全部元件濃縮在一個機箱內，具有體積小，重量輕等特點，是電力系統以及氧化鋅避雷器生產廠現場試驗必不可少的設備。10kV以上避雷器直流參數測試可以參考我公司的HDZG直流高壓發生器，HDZG直流高壓發生器也有0.75 U1mA快捷測試按鈕方便測試避雷器......
電話：027-65383387 15926253748 涂建國 
半導體晶片內部缺陷檢測系統
產品介紹 HS-phys-SimPLe半導體晶片內部缺陷檢測系統是專門用于包括單晶硅、碳化硅、藍寶石等半導體晶片及晶環生產過程中以極高的分辨率探測晶片和晶環的內部滑移線、內部隱裂等內部缺陷檢測的儀器 檢測原理是：HS-Phys-SimPLe系統是一種高分辨率光致發光（PL）掃描映射系統，用于表征直徑高達400mm的半導體晶片。使用專門設計的高強度激光源來激發半導體材料中的少子載流子。 三種類型復合載體：SRH（S......
電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞
