少子壽命 選購指南
單點(diǎn)少子壽命測試儀
產(chǎn)品介紹: HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到20000μs,硅料電阻率下限達(dá)0.1Ω.cm,(可擴(kuò)展至0.01Ω.cm)。測試過程全程動(dòng)態(tài)曲線監(jiān)控，少子壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況，是原生多晶硅料及半導(dǎo)體及太陽能拉晶企業(yè)不可多得少子壽命測量儀器。 產(chǎn)品特點(diǎn) ■......
電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞 
美國sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀
灣邊貿(mào)易供應(yīng)美國sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀 美國sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測試儀器采用了獨(dú)特的測量和分析技術(shù)，包括類似平穩(wěn)狀態(tài)photoconductance (QSSPC)測量方法。可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。WCT一個(gè)高度被看待的研究和過程工具。QSSPC終身測量也產(chǎn)生含蓄的打開電路電壓(對照明)曲線，與I-V曲線是可比較的在一個(gè)太陽能電池過程的每個(gè)階段。sinton WCT-120 WCT-120準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)法測少子壽命的原理？ W......
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